濺射鍍膜
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高功率脈沖磁控濺射制備TiNx涂層研究
本文利用高功率復合脈沖技術(shù)制備TiNx涂層,電源能量輸出采用直流與脈沖疊加形式,主要研究氮氣流量對膜層性能的影響,并與直流磁控濺射沉積涂層進(jìn)行對比研究。
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基體偏壓對高功率脈沖磁控濺射制備類(lèi)石墨碳膜的影響研究
采用高功率脈沖磁控濺射技術(shù)于Si基底表面制備了類(lèi)石墨碳膜, 研究了基體偏壓對薄膜沉積速率、微觀(guān)結構、力學(xué)性能及摩擦學(xué)性能的影響規律。
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基于PLC的磁控濺射溫度控制系統設計
本文以西門(mén)子S7-300可編程控制器(PLC)為控制核心,通過(guò)觸摸屏構成人機交換界面(HMI),論述了磁控濺射溫度控制系統的性能特征與控制方法。
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本底真空度對磁控濺射法制備AZO 薄膜的影響
采用直流磁控濺射方法在平板玻璃基體表面沉積AZO薄膜,研究了本底真空度對薄膜厚度、方塊電阻以及在300 ~1100nm波長(cháng)范圍內透過(guò)率的影響。
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光譜擬合法確定一種鈣鈦礦結構薄膜材料的復數光學(xué)常數
為了獲得一種鈣鈦礦結構鑭鍶錳氧薄膜材料的復數光學(xué)常數, 利用光學(xué)薄膜原理和數學(xué)優(yōu)化方法,對磁控濺射技術(shù)制備的不同厚度的鑭鍶錳氧薄膜。
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SrHfON高k柵介質(zhì)薄膜的漏電特性研究
采用射頻反應磁控濺射法在p-Si(100) 襯底上成功制備出SrHfON高k柵介質(zhì)薄膜, 并研究了Au/SrHfON/Si MOS 電容的漏電流機制及應力感應漏電流(SILC)效應。
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真空環(huán)境中多場(chǎng)耦合對Au/Cu/Si薄膜界面結構的影響
采用磁控濺射方法在Si基底上制備了Au/Cu薄膜。利用掃描俄歇微探針納米化分析技術(shù)進(jìn)行表面成分分析與深度剖析, 研究在真空環(huán)境中, 紫外輻照、微氧氧含量及處理溫度等因素作用對Au/ Cu薄膜界面結構的影響。
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直流磁控濺射中磁場(chǎng)強度和陰極電壓對圓平面靶刻蝕形貌的影響
本文借助Comsol和Matlab軟件模擬了直流磁控濺射圓平面靶系統的磁場(chǎng)分布和荷電粒子分布,對不同磁場(chǎng)強度和陰極電壓條件下的荷電粒子分布進(jìn)行了模擬分析。
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工作氣壓對室溫磁控濺射CIGS膜的影響
研究了工作氣壓對磁控濺射法制備CIGS薄膜的影響, 采用X 射線(xiàn)衍射, 掃描電鏡, X 射線(xiàn)螢光光譜和X 射線(xiàn)能量色散譜分析了膜層的組織和成分。
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射頻磁控濺射沉積Al/Al2O3納米多層膜的結構及性能
運用射頻磁控濺射技術(shù)在Si(100) 基片及40Cr鋼基體上制備了調制周期K= 60nm, 調制比G= 0.25~3的Al/A12O3納米多層膜。
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