濺射鍍膜
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半球形工件內表面濺射鍍膜的膜厚均勻性研究
本文分別建立了計算模型,將圓平面靶的濺射區域簡(jiǎn)化為線(xiàn)形圓環(huán)跑道,在靶材表面余弦發(fā)射、空間直線(xiàn)飛行的基本假設下,推導得到了各自的半球形工件內表面上的膜厚分布計算公式。
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高頻半橋直流磁控濺射電源設計
穩定可靠的直流電源是直流磁控濺射鍍膜質(zhì)量的關(guān)鍵,本文采用開(kāi)關(guān)頻率為50 kHz 的半橋拓撲,對主回路結構和參數進(jìn)行設計。
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直流磁控共濺射制備Zn-Sb 熱電薄膜的研究
本文選取純度為99.99%的Zn 和Sb 金屬靶作為靶材,采用直流磁控共濺射技術(shù),制備Zn-Sb 合金熱電薄膜,研究不同熱處理條件下合成的Zn-Sb 化合物熱電薄膜的結構與熱電特性變化規律。
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影響磁控濺射制備TiO2 薄膜性能的因素研究
從研究制備條件對Ti02薄膜的透射率及光學(xué)常數的影響出發(fā),利用分光光度計測量薄膜的透射率,橢圓偏振光譜儀作為確定薄膜光學(xué)參數的測試儀器,研究了不同制備條件對Ti02薄膜光學(xué)特性的影響。
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離子源對中頻反應濺射沉積AlN 薄膜結構和性能的影響
本文采用離子源輔助中頻反應磁控濺射技術(shù)沉積AlN 薄膜,通過(guò)中頻反應磁控濺射解決了因“靶中毒”引起的“打火”和沉積速率大幅度下降的問(wèn)題;同時(shí)利用離子源輔助沉積,進(jìn)一步提高離化率,從而提高所沉積薄膜的質(zhì)量。
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高功率脈沖磁控濺射試驗平臺設計及放電特性研究
高功率脈沖磁控濺射(HPPMS)因其高離化率而得到廣泛關(guān)注,是目前的熱點(diǎn)研究方向,為此我們搭建了試驗平臺并對HPPMS 的放電特性進(jìn)行了研究。
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磁控靶濺射沉積率的影響因素
濺射沉積率是表征成膜速度的參數,其沉積率高低除了與工作氣體的種類(lèi)與壓力、靶材種類(lèi)與“濺射刻蝕區“的面積大小、靶面溫度與靶面磁場(chǎng)強度、靶源與基片的間距等影響因素外。
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