壓縮式真空計的測量刻度

　　根據測量時(shí)選定水銀面的基準線(xiàn)位置的不同，壓縮式真空計的刻度方法分為下面三種。

　�。�1）無(wú)定標刻度法。即在測量時(shí)，將水銀面提升到任意位置固定下來(lái)，如圖2的位置，分別測出h₁和h₂值，代入基本方程式就可計算出待測壓力值p，這種方法稱(chēng)為無(wú)定標刻度法。此法多用于作為標準計校對其他相對真空計的場(chǎng)合。

圖1  壓縮式真空計　　圖2  壓縮式真空計測量圖

　�。�2）平方刻度法。在測量時(shí)，將比較毛細管中水銀面提升到與測量毛細管內頂端同一水平線(xiàn)（基準線(xiàn)）上，即此時(shí)h₂= 0，則基本方程式可寫(xiě)成

　　可見(jiàn)壓力p與水銀面高度差h的平方成正比，所以此法稱(chēng)為平方刻度法。

　�。�3）直線(xiàn)刻度法。在測量時(shí)，將水銀面提升到測量毛細管上某一位置（此位置作為基準線(xiàn)），即h 1= 常數，則基本方程式寫(xiě)成

　　式中K _line為直線(xiàn)刻度真空計常數，單位為Pam^-1。所以p與水銀液面高度差h成直線(xiàn)關(guān)系，故稱(chēng)為直線(xiàn)刻度法。在刻度過(guò)程中，h₁可選其等于任意值，選定一個(gè)值（一條基準線(xiàn)）就可有一對應的刻度尺。

　　因此，同一臺壓縮式真空計可同時(shí)選定幾個(gè)h₁值，對應地就有幾個(gè)不同的刻度尺。

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