弧源電流對TiN薄膜結構影響的實(shí)驗材料與方法
本文利用AIP-01型多弧離子鍍膜機在不銹鋼基體及Si片上沉積了TiN薄膜,從多弧離子鍍原理上研究了弧源電流對TiN 薄膜結構及摩擦學(xué)性能的影響。
實(shí)驗材料與方法
基體材料為20 mm×20 mm×2 mm 的不銹鋼(1Cr18Ni9Ti),Si 片隨爐。薄膜的制備在A(yíng)IP- 01型多弧離子鍍膜機上進(jìn)行,試樣經(jīng)機械拋光、堿洗、酒精中超聲波清洗,最后充分干燥后裝入清潔的鍍膜室內。薄膜沉積前先通過(guò)Ar+刻蝕對基體清洗5 min,鍍膜時(shí)氬氣流量為零,固定N2 流量為0.22 SLM/s,具體工藝參數列于表1。
表1 TiN 薄膜沉積工藝參數
用場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FE- SEM)觀(guān)察薄膜的表面形貌及斷面形貌;用顯微硬度計測量TiN 薄膜的硬度,載荷為25 g,加載時(shí)間10 s;用實(shí)驗室自改裝的摩擦系數測定裝置測量TiN 薄膜的摩擦系數,由TiN 薄膜樣品與A3 鋼組成一對摩擦副,試驗過(guò)程中上試樣固定,A3 鋼圓盤(pán)轉動(dòng),干摩擦,轉速為0.87 轉/ 分,實(shí)驗載荷為1 N。
全文閱讀:
不同弧源電流TiN薄膜的表面形貌及其摩擦學(xué)性能研究